扫描隧道显微镜（STM）
简介
扫描隧道显微镜（STM）可用于在原子尺度上观察样品表面形貌，并实现对单个原子的精确操纵。基于隧道电流与样品电子态密度（Density of States, DOS）积分的依赖关系，STM 能够直接测量样品的局部电子结构。通过将实空间扫描成像功能与隧道电子谱（STS）分析相结合，可开展谱成像测量，从而实现对样品电子结构在空间分布上的同步表征。
扫描隧道显微镜（STM）可用于在原子尺度上观察样品表面形貌，并实现对单个原子的精确操纵。基于隧道电流与样品电子态密度（Density of States, DOS）积分的依赖关系，STM 能够直接测量样品的局部电子结构。通过将实空间扫描成像功能与隧道电子谱（STS）分析相结合，可开展谱成像测量，从而实现对样品电子结构在空间分布上的同步表征。