电子探针显微分析_EPMA测试(云视频)
简介
电子探针显微分析(Electron Probe Micro-Analyzer, EPMA),亦称为微区X射线光谱分析仪或X射线显微分析仪。其主要技术特点与应用优势如下:
1. 微区结构分析:EPMA可在微米量级范围内进行微区分析,能够将化学成分与显微结构实现精准对应,是研究材料微观结构的有效手段。
2. 元素分析范围广泛:可检测从硼(B)到铀(U)范围内(原子序数 5~92)的元素。
3. 定量分析精度高:其检测极限(最低可检测浓度)通常在 0.01~0.05 wt% 之间,能够有效开展轻元素、痕量元素以及在存在能谱重叠峰情况下的定量分析。
4. 分析效率高且无损:采用新型电子探针设备,单次样品分析可在 0.5 h 左右完成,且分析过程对样品无损,分析后样品可完好保存。
5. 应用领域广泛:该技术被广泛应用于冶金、地质、生物及考古等多个科研与工业领域。
常见问题
1、
EPMA中成分分析属于能谱分析还是波谱分析?
EPMA成分分析使用的是波长色散谱仪(WDS),即属于波谱分析。
2、
SEM和EPMA的主要区别是?
SEM侧重于形貌成像,EPMA更倾向于微区成分分析。
以下是改写内容:
1. 在EPMA分析中,成分分析属于能谱分析还是波谱分析?
答:EPMA的成分分析采用的是波长色散谱仪(WDS),因此在技术分类上属于波谱分析。
2. SEM与EPMA的主要区别是什么?
答:扫描电子显微镜(SEM)的功能侧重于样品的形貌成像与表面观察;而电子探针显微分析(EPMA)则侧重于对微区成分进行高精度的定性与定量分析。