微计算机断层扫描(Micro-CT)

微计算机断层扫描（Micro-CT）基于微焦点X射线成像原理，可实现超高分辨率的三维成像。该技术能够在非破坏性条件下获取高精度的三维图像，从而揭示样品内部详尽的三维结构信息，并可针对样品的结构、密度及力学特性进行定量分析。

通过Micro-CT的三维结构扫描，无需进行额外的样品制备即可非破坏性地获取样品内部信息，并以2D或3D图像的形式直观呈现样品内部形态。此外，该技术还可生成仿真模型，实现对样品内部结构的虚拟透视。