超景深显微镜

简介

超景深显微镜主要用于材料样品的3D形貌成像,以及粒径、高度和宽度的定量测量。该设备能够清晰地呈现样品表面的细微凹凸形貌,其成像效果可比肩扫描电子显微镜(SEM)。此外,该系统支持2D及3D图像拼接功能,最大拼接分辨率可达 50,000 像素 × 50,000 像素。