同步辐射小角散射SAXS_小角X射线散射

同步辐射小角X射线散射（SAXS）能够以极低的空间频率对材料进行探测，从而有效观察材料内部密度的不均匀性或周期性分布。该技术在识别微相分离结构及分析介孔特性方面具有重要应用。此外，在样品浓度较低或晶体分布足够稀疏的情况下，SAXS 还可用于分析纳米颗粒的形貌、尺寸等结构信息。

问：同步辐射小角X射线散射（SAXS）的可测范围是多少？

答：该项测试的测量角度范围为 0.015＜2θ＜0.56，对应的散射矢量q范围约为 ~0.01＜q＜0.37 Å-1。