冷冻切片检测_冷冻切片取样加工

简介

本服务提供半薄切片与超薄切片的制备加工，旨在为透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）以及光学显微镜（光镜）的检测分析提供表面平整度高的切片试样。

针对透射电镜（TEM）的冷冻切片分析，具体流程包括：

1. 采用冷冻切片制样工艺，获取符合TEM观察要求的试样；

2. 结合TEM透射电子显微镜，对材料的微观形貌进行深入表征与分析。

1. 冷冻切片的必要性

针对高分子材料及生物样本，受限于电子束的穿透能力，在进行透射电镜（TEM）等表征分析前，必须将样品加工成厚度小于100nm的超薄切片，以确保电子束能够有效穿透样品并获得高质量的成像结果。

2. 适用材料范围

本项加工服务适用于各类软材料，包括但不限于软塑胶、橡胶等高分子材料以及需进行显微分析的生物样本。