原位断层光谱
简介
原位断层吸收光谱技术可用于表征薄膜在不同深度方向上的组分分布、凝聚态结构、光学分布，以及电荷局域态密度的空间分布与能量分布，旨在深入揭示薄膜内部的光学作用机制与电荷输运特性。该方法具有广泛的适用性，既可应用于有机高分子通用薄膜，亦可用于各类功能薄膜。
原位断层吸收光谱分析主要涵盖以下两类测试手段：
1. 原位紫外-可见断层光谱分析
2. 原位红外断层光谱分析
原位断层吸收光谱技术可用于表征薄膜在不同深度方向上的组分分布、凝聚态结构、光学分布，以及电荷局域态密度的空间分布与能量分布，旨在深入揭示薄膜内部的光学作用机制与电荷输运特性。该方法具有广泛的适用性，既可应用于有机高分子通用薄膜，亦可用于各类功能薄膜。
原位断层吸收光谱分析主要涵盖以下两类测试手段：
1. 原位紫外-可见断层光谱分析
2. 原位红外断层光谱分析