平面激光干涉仪

平面激光干涉仪主要用于光学玻璃光学非均匀性的高精度测量。光学均匀性是指在同一块光学玻璃内部，各测点的折射率相对于该玻璃平均折射率的最大正、负偏差。在实际测量过程中，采用斐索（Fizeau）平面干涉法进行分析与表征。

1. 斐索平面干涉法（Fizeau Planar Interferometry）的定义及原理是什么？

答：斐索平面干涉法是指在标准平面与待测平面之间建立一个微小的倾角，从而形成一个空气楔形空间。通过改变该空气楔的方位或大小，使两束相干光在空气楔主截面方向上的光程差（Optical Path Difference, OPD）产生连续变化，进而形成等厚干涉条纹。

2. 关于斐索平面干涉法测量光学均匀性的光学原理图。

答：该原理图详细展示了相干光在标准面与待测面之间形成空气楔以及产生干涉条纹的物理过程，用于阐述光学均匀性的测量机制。