平面近场测试系统_近场测量
简介
平面近场测试系统由高频矢量网络分析仪、精密扫描架、功率放大器以及被测天线（AUT）支架等核心组件构成。
1. 技术指标
- 测试频率范围：0.6 GHz ~ 40 GHz
- 屏蔽效能：0.6 GHz ~ 18 GHz 为 105 dB；18 GHz ~ 40 GHz 为 95 dB
- 动态范围：70 dB
- 最大被测物重量：200 kg
- 探头交叉极化：校准后优于 40 dB
- 静区反射电平：
- 0.8 GHz ~ 1 GHz：≤ -25 dB
- 1 GHz ~ 2 GHz：≤ -30 dB
- 2 GHz ~ 6 GHz：≤ -35 dB
- 6 GHz ~ 10 GHz：≤ -40 dB
- 10 GHz ~ 40 GHz：≤ -50 dB
2. 核心设备
系统配备罗德与施瓦茨（Rohde & Schwarz）ZNA50 高频矢量网络分析仪。其主机频率范围为 ≥10 MHz ~ 50 GHz，并配备扩频模块，可将频率范围扩展至 50 GHz ~ 110 GHz。
3. 主要功能与应用
本系统主要用于天线关键电性能参数的精确测量，包括增益、方向图、波瓣宽度、轴比、前后比以及交叉极化比等。该系统适用于相控阵天线、雷达天线等高频天线器件的测试与表征。
常见问题
1. 矢量网络分析数据中提供的TXT文件包含什么数据？
该TXT文件记录的是S参数数据，其中“r”代表实部（Real part），“i”代表虚部（Imaginary part）。
2. 在使用矢量网络分析仪（VNA）时，弓形法（Arch method）能够获取哪些数据？
弓形法仅能用于测量并给出材料的吸波反射率。
3. 在使用同轴线测量粉末样品且需要添加石蜡作为介质时，是否有推荐的参考配比？
目前没有统一的参考值。在缺乏具体参考的情况下，建议先采用1:1的比例进行初步测量，随后根据测试数据结果对浓度进行调整。同时，建议查阅相关学术文献以获取更精准的配比参考。
4. 在矢量网络分析仪的测试中，电磁屏蔽效能是基于什么进行计算的？
电磁屏蔽效能是直接基于S参数进行计算得出的。