四探针测试仪_电导率_电阻率测试

四探针法（Four-Probe Method）基于基尔霍夫电流定律（KCL）和基尔霍夫电压定律（KVL）进行电学测量。在测试过程中，将被测器件的四个端口分别连接至四个探针，构建一个闭合的四端口网络；通过精确测量该网络中的电流与电压，即可获取被测器件的电阻参数。

相关技术原理如下：

1. 固体导体的电阻率可通过欧姆定律及电阻定律进行测定。

2. 测试所得的电阻值可通过换算得到材料的电导率。

3. 电导（G，单位：西门子 S）与电阻（R，单位：欧姆 $\Omega$）呈倒数关系，计算公式为：$G = 1/R$。

4. 电阻率与方阻及膜厚的关系为：电阻率 = 方阻 $\times$ 膜厚。

1. **关于测量类型的说明**：本测试项目测量的是样品的表面电阻（Surface Resistance），而非体积电阻。

2. **关于电导率的获取**：可以通过测试结果计算得出电导率。电导率（G）与电阻（R）之间存在倒数关系，计算公式为 G=1/R。