微波暗室拱形架测试系统_材料反射率测试

本微波暗室拱形架测试系统主要用于材料反射率的表征测试，系统由低频矢量网络分析仪、拱形架、材料支架及校准板等核心组件构成。

1. 技术指标

- 频率范围：1 GHz ~ 40 GHz

- 系统动态范围：70 dB

- 屏蔽效能：0.6 GHz ~ 18 GHz 为 105 dB；18 GHz ~ 40 GHz 为 95 dB

- 升降台行程：0 ~ 800 mm

- 拱形架角度范围：5° ~ 90°

- 被测材料尺寸要求：

 - 1 GHz ~ 8 GHz 频段：500 $\times$ 500 $\times$ 10 mm

 - 8 GHz ~ 40 GHz 频段：180 $\times$ 180 $\times$ 10 mm

问：测试大约需要多少时间？

答：具体的测试时间取决于样品的特性以及所选的测试项目。例如，在进行方向图和增益测试时，单次测试大约需要30分钟。