平面近场测试系统_近场测量
平面近场测试系统由高频矢量网络分析仪、精密扫描架、功率放大器以及被测天线（AUT）支架等核心组件构成。 1. 技术指标 - 测试频率范围：0.6 GHz ~ 40 GHz - 屏蔽效能...
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OLED光电测试系统_基本类型灯具测试
本测试系统旨在对各类基本类型灯具进行全面的光电性能表征，涵盖电参数、颜色参数及光度参数。系统兼容市面上主流的基本类型灯具，包括但不限于球泡灯、路灯、景观灯、筒灯及日光灯等。 具体测试项...
超声回波材料测试系统
ELS500是一款专业的超声接触脉冲回波系统，用于对固体材料的动态弹性力学性能进行无损且精确的测量。该系统通过测定超声波在待测材料（如薄膜、涂层、复合材料、晶体、陶瓷及金属等）中的传播...
SPV表面光电压法测试_表面光电压谱仪
表面光电压法（Surface Photovoltage, SPV）是一种通过测量半导体材料表面在光照下产生的表面电压，进而表征少数载流子扩散长度的分析技术。 其基本原理为：采用能量高于...
外量子效率（IPCE_EQE）
外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE），亦称入射光子-电流转换效率（Incident Photon-to-Current Efficiency,...
强度调制光电流谱（IMPS）_太阳能电池分析技术
强度调制光电流谱（IMPS）测试通过对器件施加正弦波形变化的调制光强照射，在维持恒定电压的条件下测量光电流的响应。该技术主要用于表征光电器件中电荷载流子的传输特性，并可用于计算载流子的...
太阳能电池伏安特性测试仪
各项特性表征手段中，I-V（电流-电压）特性测试因其直观性和高效性而被广泛采用。通过精确测量器件的I-V特性曲线，并结合后续的数据处理与分析，可提取光伏器件的关键物理性能参数，包括光电...
多功能缺陷荧光光谱仪_热释光发光机制分析
多功能缺陷荧光光谱仪是一款用于测量固体发光材料三维光谱的专业装置。通过测定热释光（TL）三维光谱（即温度、波长与发光强度之间的三维关系图谱），可以有效识别发光中心的类型并分析相关的缺陷...
荧光光谱PL测试_激发_发射光谱
荧光光谱主要分为激发光谱（Photoluminescence Excitation, PLE）和发射光谱（Photoluminescence, PL）。 激发光谱（PLE）：在固定发射...
霍尔效应测量系统
霍尔效应（Hall Effect）是一种典型的电磁效应。当电流垂直于外磁场通过导体时，在垂直于电流和磁场的方向上会产生一个附加电场，从而在导体两端形成电势差，这一现象即为霍尔效应，产生...
磁致伸缩系数测量系统
磁致伸缩（Magnetostriction）是指铁磁性材料因磁化状态的改变而引起的线度和体积的变化。 作为铁磁性材料的一种固有物理属性，磁致伸缩效应可实现磁能向机械能的转换，因此被广泛...
显微应变测试_应变分析
三维显微应变测量系统由显微系统与数字图像相关（DIC）系统两部分组成，旨在为试验提供测量范围内的三维（3D）全场形貌、位移及应变等数据信息。 在硬件配置方面，显微系统配备双体式目镜（型...