电阻率测试仪_材料电压电流电阻率测量
本测试项目提供高精度的材料电压、电流及电阻率测量服务。其技术参数如下：电压源范围为 1mV-1000V，电流测量范围为 1fA-20mA，电阻测量范围为 50Ω-3x10¹³Ω。 该测...
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微波暗室拱形架测试系统_材料反射率测试
本微波暗室拱形架测试系统主要用于材料反射率的表征测试，系统由低频矢量网络分析仪、拱形架、材料支架及校准板等核心组件构成。 1. 技术指标 - 频率范围：1 GHz ~ 40 GHz -...
光催化产氢
本服务提供光催化产氢性能测试，涵盖表观量子效率（AQY）测定、循环稳定性测试以及多样品的筛选与对比分析。 具体测试时间参考如下： 1. 样品筛选：不同样品的筛选对比，在9个样品以内时，...
四探针测试仪_电导率_电阻率测试
四探针法（Four-Probe Method）基于基尔霍夫电流定律（KCL）和基尔霍夫电压定律（KVL）进行电学测量。在测试过程中，将被测器件的四个端口分别连接至四个探针，构建一个闭合...
塞贝克系数与电阻率测试系统
塞贝克效应（Seebeck effect），亦称第一热电效应，是指两种不同电导体或半导体在存在温度梯度时，由于两种物质间的温度差异而产生电压差的热电现象。在通用规定中，热电势的方向定义...
荧光光谱测试_激发_发射光谱PL
荧光光谱分析主要分为激发光谱（Photoluminescence Excitation, PLE）与发射光谱（Photoluminescence, PL）两类： 1. 激发光谱（PLE...
自由曲面光学面形测试仪_轮廓测量
本测试服务采用自由曲面光学面形测试仪，特别适用于非对称回转结构等复杂自由曲面的面形测量。通过对元件表面的检测，可获取面形误差分布图，并输出PV（Peak-to-Valley）、RMS（...
飞秒瞬态吸收光谱分析(FS-TAS)
飞秒瞬态吸收光谱（fs-TAS）是一种基于泵浦-探测（pump-probe）原理的超快动力学表征技术。该技术通过采集瞬态吸收差值随波长和时间的变化，构建出以波长、时间和瞬态吸收差值为坐...
飞灰比电阻测定仪_比电阻特性测量
飞灰的比电阻是指单位厚度且截面积为单位面积时的电阻值。在物理定义上，当样品长度为 1 cm 且截面积为 1cm2时所测得的电阻值即为其比电阻。 比电阻是影响除尘器除尘效率的关键因素。根...
强度调制光电压谱（IMVS）_太阳能电池分析技术
强度调制光电压谱（IMVS）通过使用正弦波调制的入射光强照射器件，在器件保持开路状态（无电流流动）的前提下，对其产生的电压响应进行测量与分析。
光纤光谱仪_材料辐射谱_反射谱_吸收谱测试
本测试服务采用光纤光谱仪，旨在实现对材料辐射谱、反射谱及吸收谱的精确测量。系统采用连续光作为光源，并通过后置检测器对信号进行采集与分析。 相较于传统的紫外光谱设备，该系统通过外接光纤测...
平面近场测试系统_近场测量
平面近场测试系统由高频矢量网络分析仪、精密扫描架、功率放大器以及被测天线（AUT）支架等核心组件构成。 1. 技术指标 - 测试频率范围：0.6 GHz ~ 40 GHz - 屏蔽效能...