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原子对分布函数（Atomic Pair Distribution Function, PDF）分析法是一种用于研究材料结构的局域探针技术。该方法基于全散射（Total Scatteri...

同步辐射微区表征测试利用极小光斑尺寸与高精度的定位能力，可实现对样品微小区域的精准探测，从而准确表征不同空间区域内的结构信息、元素分布及晶相组成等关键特性。

同步辐射X射线衍射（SR-XRD）在表征原理上与常规XRD一致，均是通过对材料进行X射线衍射分析以获取其衍射图谱，从而分析材料的成分、内部原子或分子的结构及形态等信息。该技术可广泛应用...

电子通道衬度成像（Electron Channeling Contrast Imaging, ECCI）是一种用于材料微观结构分析的表征技术。该技术可实现的测试与表征项目包括： 1. ...

偏光显微镜（Polarizing microscope）是一种专门用于研究透明及不透明各向异性材料的精密光学仪器，在地质学及相关理工科领域具有广泛的应用。该设备能够清晰地分辨具有双折射...

德国GOM ATOS系列光学三维计量系统采用高精度光学扫描测量技术，具有极高的测量稳定性。在汽车工业领域，该系统可实现对冲压件、钣金件、锻铸件及塑料件的完整检测与量测。除基础的实验室研...

负染色技术（Negative Staining）是一种用于制备透射电子显微镜（TEM）样品的成像技术，旨在通过产生复反差（Reverse Contrast）来增强样品的可见度，主要应用...

金相显微镜是集成光学显微成像技术、光电转换技术与计算机图像处理技术的高精度分析设备。该设备支持在计算机终端实时观察金相图像，并可对金相图谱进行专业的分析与评级，同时实现图像的数字化输出...

本测试项目主要用于生物样本的微观形貌观察。在进行扫描电子显微镜（SEM）观察前，生物样本需经过一系列标准化的预处理流程，包括水洗、脱水及干燥等步骤，以最大限度地保留样本的原始形貌。预处...

该设备为双球差校正透射电子显微镜，可在透射电子显微镜（TEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）模式下显著提升分辨率，其空间分辨率可达 60 pm 以下。设备配备四个高效能谱探头，能够实...

荧光显微镜（Fluorescence Microscopy, FM）主要用于研究细胞内物质的吸收、运输、化学物质的分布及其空间定位。该技术基于物质的荧光特性：部分细胞内源性物质（如叶绿...

三维X射线显微镜（XRM，亦称显微CT）是一种基于X射线成像技术的无损检测手段。其工作原理是通过X射线照射样品，利用探测器记录透射X射线的强度分布，并结合计算机重建算法，将获取的投影数...