偏光显微镜测试_矿物分析鉴定
本服务采用专业的岩石矿物薄片鉴定方法，利用偏光显微镜对透明矿物进行系统的观察、鉴定与描述。针对火成岩、沉积岩及变质岩等不同类型的岩石薄片开展深入分析，通过对薄片图像的专业分析与总结，为...
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无损超声波检测UT_无损探伤
超声波检测（Ultrasonic Testing, UT）是工业领域中一种关键的无损检测方法。该技术利用超声波在介质中传播的特性，当声波在物体内部传播并遇到缺陷或界面时，部分声波会产生...
电子探针显微分析_EPMA测试
电子探针显微分析（Electron Probe Micro-Analysis, EPMA），亦称为微区X射线光谱分析或X射线显微分析，是一种高精度的微区成分分析技术。其主要技术特点如下...
场发射透射电镜_TEM电镜测试
样品下单指南： - 非磁性或弱磁性样品：请选择“场发射透射电镜（TEM）”项目下单。 - 强磁性样品：请选择“场发射透射电镜（TEM）-强磁”项目下单。 应用范围： 本测试主要用于无机...
工业CT无损探伤类检测
工业计算机断层成像技术（Industrial Computed Tomography，简称工业CT）是一种高效的无损检测手段。该技术利用X射线或γ射线穿透样品，在不破坏样品完整性的前提...
光学显微镜
光学显微镜利用光学成像系统对微小物体的图像进行放大，广泛应用于生物样本、医药材料以及微观粒子的形貌观测与分析。
生物样本透射电镜_生物样本TEM测试
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种高分辨率的成像工具，其分辨率最高可达0.1-0.2 nm，是研究生物样本超微结构的核心...
台阶仪_接触式表面形貌测量
本测试项目采用接触式台阶仪，用于获取样品的微观二维形貌轮廓及三维形貌，并可对表面粗糙度、膜厚、磨损量等关键形貌参数进行定量测量与分析。
材料样本-低电压透射电镜（TEM）
低电压透射电子显微镜（Low Voltage TEM）采用远低于传统透射电镜（通常为 80 kV～120 kV）的加速电压。由于低能电子与物质的相互作用更强且散射截面更大，该技术能够显...
超景深显微镜
超景深显微镜主要用于材料样品的3D形貌成像，以及粒径、高度和宽度的定量测量。该设备能够清晰地呈现样品表面的细微凹凸形貌，其成像效果可比肩扫描电子显微镜（SEM）。此外，该系统支持2D及...
激光显微镜_表面形貌分析
本项测试服务主要利用激光显微镜实现对样品表面的高倍率观察与成像。通过对样品表面进行扫描，可精确测量表面轮廓、粗糙度及角度等关键尺寸参数，并能够构建并输出样品的表面三维（3D）形貌模型。...
TEM透射电镜云现场（强磁样品）
本测试项目专门用于强磁样品的透射电镜（TEM）云现场表征。若您的样品为非磁性或弱磁性材料，请搜索“TEM云现场/现场”项目进行下单。 1. 应用范围：本服务主要用于无机材料（尤其是粉体...